高移動性粗糙度儀MAHR PERTHOMETER M2

• 更新時間：2017-07-03
• 瀏覽次數：1608

高移動性粗糙度儀MAHR PERTHOMETER M2
與Perthometer M1相比，該儀器不僅滿足了所選參數的確定和記錄要求，而且還使得DIN / ISO / JIS規定的大部分參數和特性曲線可用于評估輪廓的評估。
此外，Perthometer M2提供了一個集成的存儲器，用于多達200個測量結果，并能夠實現容差監測，垂直刻度選擇以及用于峰值計算計算的不對稱交叉線的設置。

訂購留言

分享到：

高移動性粗糙度儀MAHR PERTHOMETER M2

MAHR PERTHOMETER M2 

The Universal Standard Instrument ..  

Highly , high-performance surface roughness unit 

通用標準儀器

高移動性，高性能表面粗糙度單位

典型特征 ：
●測量范圍可達150μm（6000μin）
●單位μm/μin可選
●標準：可選擇SIN / ISO / JIS和CNOMO（Motif）
●根據DIN EN ISO 4288 / ASME B461的運行長度：1.75mm，5.6mm 17.5mm（.07in，.22in，.7in）;根據EN ISO 12085：1mm，2mm，4mm，8mm，12mm，16mm
●采樣長度可選擇1到5
●自動選擇符合標準的過濾器和運行長度
●根據DIN EN ISO 11562的相位校正型材過濾器
●截止0.25mm / 0.80mm / 2.50mm（.010in / .032in。/ 100in）
●可切斷短路
根據DIN / ISO / SEP的參數：Ra，Rz，Rmax，Rp，Rq，Rt，R3z，Rk，Rvk，Rpk，Mr1，Mr2，Mr，Sm，RPc，按照JIS：Ra，Rz，Ry， Sm，S，tp;主題參數：R，Rx，Ar，W，CR，CF，CL（三區測量）
●顯示和測量記錄中的容差監控
●自動或可調縮放
●印刷R型材（ISO / JIS），P型材（MOTIF），材料比例曲線，測量記錄
●測量的輸出日期和/或時間
●集成內存，zui多可達200??次測量
●動態拾音校準
●阻止儀器設置，防止意外修改以及密碼保護的可能性
 
產品描述：

• 該儀器的操作基于經過驗證的功能目錄，可以非常容易地選擇諸如測量條件，語言和記錄內容等儀器設置。因此，Perthometer M2提供了zui大的舒適性和靈活性。
• 與Perthometer M1相比，該儀器不僅滿足了所選參數的確定和記錄要求，而且還使得DIN / ISO / JIS規定的大部分參數和特性曲線可用于評估輪廓的評估。
• 此外，Perthometer M2提供了一個集成的存儲器，用于多達200個測量結果，并能夠實現容差監測，垂直刻度選擇以及用于峰值計算計算的不對稱交叉線的設置。

篤摯儀器（上海）有限公司將繼續以良好的信譽為基礎，秉承穩固與發展、求實與創新的精神，為客戶提供更全面、更優質的服務。我們會腳踏實地、勇于拼搏、敢于創新，把我們的服務、經驗和技術更優質的提供給每一位客戶。我們堅持技術和服務并重的思想，遵守規范、客觀、公正、實事求是的原則，信守協議，重質量、求效率。堅持以*的專業水準，*的敬業精神，*的服務意識，勤奮細致的工作態度為客戶服務