Talysurf CCI三維形貌儀非接觸輪廓儀 Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理，可高精度測量表面形貌、表面粗糙度及關鍵尺寸，并計算關鍵部位的面積和體積。主要應用于數據存儲器件，半導體器件，光學加工以及MEMS/MOEMS技術以及材料分析領域。

泰勒SURTRONIC DUO粗糙度儀 型號：SURTRONIC DUO 探頭系統：探頭系統 表面粗糙度測量范圍：199μm，40μm 掃描路徑：5mm 表面粗糙度分辨率：0.01μm 閾值波長：0.8 mm

Taylor Hobson英國制造 新的Surtronic®S-100系列具有多功能性，可滿足大量表面測量應用的粗糙度要求。Surtronic S-128是Surtronic®S-100系列兩個型號中的款。它具有一個50mm的觸控筆電動機，具有直角連接和超過70mm的觸針距離，即使是*挑戰性的表面測量，也不需要使用昂貴的升降器，擋塊，支架或固定裝置。實用和

Surtronic S100 新型Surtronic S-100系列儀器能夠為您的粗糙度測量需求提供多種解決方案，包括多樣化的系統和應用相關配件，并且能夠 針對特殊應用的配件定制工裝。

Surtronic DUO 英國Taylor粗糙度儀如何工作 Surtronic Duo是便攜式的 測量表面粗糙度測試儀 多個粗糙度參數與1按鈕 單擊。 粗糙度測量參數 例如Ra，Rz，Rp，Rv和Rt 一個明亮的直觀2.4“LCD彩色顯示屏。 其可充電電池操作使其成為一個 方便快捷，方便快捷 幾乎的現場測量 任何環境和表面。

泰勒霍普森形狀（輪廓）和表面粗糙度測量儀 強大的測量能力：表面粗糙度、輪廓和 3D 測量： » 表面細節 - 高分辨率傳感器和低噪音軸能夠實現粗糙度和波紋度測量。 » 輪廓 - du家**權的校準技術能夠實現半徑、角度、高度、長度、距離等準確測量。 » 3D - 使用可選的自動 Y 移動臺和 Talymap 軟件 , 能夠輕松的將傳統的2D測量轉換為3D 測量工具。